全聚焦相控陣探傷儀通過軟件可以單獨控制相控陣探頭中每個晶片的激發(fā)時間，從而控制產生波束的角度、聚焦位置和焦點尺寸。利用相控陣成像技術，分別對相控探頭內各芯片的激發(fā)時間進行控制。一種叫相控陣的中文超聲探傷儀的儀器，相控陣探傷儀主要是用來檢測相控陣中受損傷位置的原理。
 

　　全聚焦相控陣探傷儀的產品優(yōu)勢：
 

　　1、實時彩色成像，包括A/B/C/D和S-掃描，便于缺陷判讀，不會誤判或漏判缺陷；
 

　　2、相控陣技術可以實現線性掃查、扇形掃查和動態(tài)深度聚焦，從而同時具備寬波束和多焦點的特性，因此檢測速度可以更快更準；
 

　　3、相控陣具有更高的檢測靈活性，可以實現其它常規(guī)檢測技術所不能實現的功能，如對復雜工件檢測；
 

　　4、容易檢測各種走向、不同位置的缺陷，缺陷檢出率高，檢測范圍廣，定量、定位精度高；
 

　　5、掃查裝置簡單，便于操作和維護；使用更便捷，對人體無傷害，對環(huán)境無污染；
 

　　6、檢測結果受人為因素影響小，數據便于儲存、管理和調用，以及連接電腦打印查看。也可以直接連接鼠標在儀器上操作。
 

　　7、可以節(jié)省許多成本費用，一探頭+各角度楔塊的多用處，可以自動生成圖文缺陷報告，若有內部網路可以直接發(fā)送質檢報告到數據中心查閱。